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HAST高压加速老化箱测试要求

文章出处:www.lrcjy.com 人气:发表时间:2021-06-05 11:55:56

HAST高压加速老化试验箱适用于电子原器件,LED封装,芯片(IC)、集成电路、闪存等检测。

  经市场调研高压加速老化试验箱HAST

  在温度130℃、湿度85%RH、压力230kPa的温湿度压力测试条件是行业里的标准要求也是更能满足客户常用的试验需求。

  艾思荔技术优势:

  内胆采用圆弧设计防止结露滴水,符合国家安全容器规范,

  HAST试验箱干湿球温度控制、升温温度控制及湿润饱和控制等三箱控制模式;

  可选购多个BIAS电压端子,根据自己的需求选择

  出色的温湿度jing密控制逻辑,防止待测品潮湿与结露的模式选择;

  压力值采实际感应侦测,确保温度、湿度及压力值准确度;

  可满足测试标准

  GB-T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热

  IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分:试验方法 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)

  JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命

  JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试

  JESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮

  JESD22-A108 温度,偏置电压,以及工作寿命(IC寿命试验)

  JESD22-A110 高加速温湿度应力试验(HAST)

  JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

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